رقم المنتج الخاص بالشركة المصنعة:
SN74LVTH182512DGGR
Product Overview
المُصنّع:
Texas Instruments
رقم الجزء DiGi Electronics:
SN74LVTH182512DGGR-DG
وصف:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
وصف تفصيلي:
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
المخزون:
1618 قطع جديدة أصلية في المخزون
1752215
طلب عرض سعر
الكمية
الحد الأدنى 1
الحد الأدنى 1
(*) إلزامي
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
سنتواصل معك في غضون 24 ساعة
إرسال
SN74LVTH182512DGGR المواصفات الفنية
فئة
منطق, المنطق المتخصص
المُصنّع
Texas Instruments
تعبئة
Tape & Reel (TR)
سلسلة
74LVTH
حالة المنتج
Active
نوع المنطق
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
جهد الإمداد
2.7V ~ 3.6V
عدد البتات
18
درجة حرارة التشغيل
-40°C ~ 85°C
نوع التركيب
Surface Mount
العبوة / العلبة
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
حزمة جهاز المورد
64-TSSOP
رقم المنتج الأساسي
74LVTH182512
مواصفات تقنية ومستندات
معلومات إضافية
الباقة القياسية
2,000
اسماء اخرى
74LVTH182512DGGRG4-DG
74LVTH182512DGGRE4-DG
-74LVTH182512DGGRE4-NDR
74LVTH182512DGGRE4
74LVTH182512DGGRG4
-SN74LVTH182512DGGR-NDR
296-8698-6
-74LVTH182512DGGRE4
296-8698-2
-296-8698-1
296-8698-1
-74LVTH182512DGGRG4
-296-8698-1-DG
-74LVTH182512DGGRG4-NDR
التصنيف البيئي والتصدير
حالة RoHS
ROHS3 Compliant
مستوى حساسية الرطوبة (MSL)
1 (Unlimited)
حالة الوصول
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
شهادة ديجي
المنتجات ذات الصلة
SN74TVC3010PWR
IC PROG VOLT CLAMP 24-TSSOP
SN74SSTV16857DGVR
IC REG BUFFER 14-BIT 48-TVSOP
SN74LVTH182646APM
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
